全自动四端子粉末电阻率测试仪

全自动四端子粉末电阻率测试仪   自动化与智能化功能

自动极性切换：正/负电流输出与电压测量自动完成，减少人工干预。

实时数据图谱分析：PC软件同步显示压强-电阻率变化曲线、压实密度曲线，支持数据导出与报表生成。

压力与厚度联动控制：压力范围 高达 200 kg–1吨，厚度测量精度±0.1 mm，可定制模具尺寸（如内径16–163 mm）。

全自动四端子粉末电阻率测试仪  模块化配置与兼容性

测试模式可选：支持四探针法（符合GBT 30835-2014锂电材料标准）和四端子法（符合GB/T 24521-2009）。

模具灵活选配：标配模具内径通常为16–30 mm，可定制特殊规格（如163 mm大尺寸模具）。

扩展接口丰富：配备USB/232通讯接口，连接计算机、打印机等外部设备。

间距控制的实践要点

样品匹配原则：

对于半 大样品（如晶圆），探针间距需小于样品 小尺寸的1/20，避免边缘效应干扰。

薄膜样品要求厚度与间距比（t/s）≤0.4，否则需引入修正系数（如C=4.532）。

接触压力控制：

使用弹簧加载机构保持探针压力0.5~1N，压力过大会导致间距变形（如银薄膜测试中压力增加7%会使电阻率上升7%）。

软质材料（如有机半导体）建议采用镀金探针减少压痕。

精度对比

两探针法：

误差主要来自接触电阻和导线电阻，尤其对小电阻材料（如金属箔）影响显著。例如，测试铝箔时，两探针法测得电阻率（0.370026 Ω·cm）远高于四探针法结果（2.884×10?? Ω·cm）。

适用于大电阻材料（如绝缘体），因附加电阻相对较小。

四探针法：

通过分离电流与电压回路，误差可控制在±1%以内，尤其适合半导体、薄膜等微尺度样品。

对低阻材料（如铜箔）和高阻材料（如掺杂硅）均能准确测量。

测试方法适配性

四探针法

适用于高精度测量，通过四根等间距探针消除接触电阻误差，尤其适合薄层或压片导电粉末（如石墨烯、金属粉）。

需确保探针材料为铂或金，以提升稳定性和导电性。

二电极法

操作简单，适合块状或厚层样品，但需通过高压（）压制粉末以减少接触电阻影响。

明确测量需求

测量范围?：根据样品电阻率范围选择仪器，如半导体材料需覆盖10^-6～2×10^6Ω-cm，而石墨类材料可能需要更宽量程（如10^-6～200×10^3Ω-cm）。

测试方法：

四探针法：适用于高精度测量，可消除接触电阻误差，如ST2742B型仪器支持电阻率-压强曲线测试。

伏安法：适合导电粉末，需搭配恒流源和压力装置。

高阻计法：用于绝缘粉末，需高压测量（如500V-1000V）

关注 性能指标

精度与分辨率：

电阻精度应≤0.3%，分辨率需达10^-8Ω-cm。

电压/电流误差需±0.5%以内。

环境控制：

温湿度影响显著，优选带闭环温控（如23±2℃）和湿度补偿的仪器。

自动化功能：

自动加载、数据记录及分析功能可减少人为误差。

适配样品特性

粉末类型：

导电粉末（如金属粉）需加压电极形成通路；绝缘粉末（如陶瓷粉）需高阻计测量。

粒径与堆积：

40-60目标准筛网适配多数仪器，特殊粒径需定制筛网或样品池。

压力控制（如4MPa±0.05MPa）确保堆积密度一致。